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日本bunkoukeiki光譜儀高精度測量單色儀

日本bunkoukeiki光譜儀高精度測量單色儀 M25

光學裝置采用我們的改良車爾尼-特納安裝座,可最大限度地減少多重衍射造成的雜散光。
由于光學系統的像差很少,因此可以在每個波長上獲得高度對稱的光譜。
由于衍射光柵更換方便且更換重現性好(±0.1mm以內),因此可作為寬帶光譜儀(單色儀)使用。(200nm 至 25μm)
由于可以進行氮氣吹掃,因此也可以在紅外區域使用。

  • 產品型號:M25
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2025-05-05
  • 訪  問  量:597
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詳細介紹

日本bunkoukeiki光譜儀高精度測量單色儀 M25 特點介紹


光學裝置采用我們的改良車爾尼-特納安裝座,可最大限度地減少多重衍射造成的雜散光。

由于光學系統的像差很少,因此可以在每個波長上獲得高度對稱的光譜。

由于衍射光柵更換方便且更換重現性好(±0.1mm以內),因此可作為寬帶光譜儀(單色儀)使用。(200nm 至 25μm)

由于可以進行氮氣吹掃,因此也可以在紅外區域使用。

光學系統采用寬有效面積的衍射光柵,F=4.3時明亮,像差小,出射光在各波長上具有良好的對稱性,從而獲得更高的分辨率。

機構和操作簡單且堅固,因此耐沖擊和振動,狹縫機構幾乎沒有間隙,可實現高精度測量。

由于輸入和輸出狹縫位于相對側,因此很容易與其他光學系統和特殊配件結合使用,從而使您能夠創建適合您預期用途的光譜系統。

通過安裝步進電機波長驅動裝置(可選),可以使用外部脈沖信號或GP-IB進行控制。


日本bunkoukeiki光譜儀高精度測量單色儀 M25 規格參數


光學系統類型 不對稱改進的 Czerny-Turner 安裝系統  

 焦距 250毫米 

 孔徑比 F=4.3 

 衍射光柵 標記線有效面積 52 x 52 mm 

 光波長范圍 200~1400nm   

 機械波長范圍     0~1400nm  

 解決 0.1nm(半寬) 

 波長掃描法 正弦桿機構/波長線性掃描 

 波長驅動方式(可選) 步進電機驅動 

 波長精度 ±0.1nm(從正向設定) 

 波長顯示 計數器顯示最小1nm,最小刻度0.1nm 

 波長重現性 ±0.1nm(從正向設定) 

 雜散光 1×10 -4以下( λ 0 ±5 nm ,λ 0 =546.1 nm ) 

 輸入/輸出狹縫 寬度:0~4mm(雙開口對稱,連續可變,最小讀數刻度0.01mm) 

 篩選 手動滑動方式(最多可安裝6種)*紫外線、紅外線可選 


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